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位相差测量

放大字体  缩小字体 发布日期:2024-02-26 13:59:55    浏览次数:49
导读

王子计测超高位相差测量PAM-UHR100特点:①1nm宽测量范围②高重复精度±1nm③良好的可操作性④软件测定对象:位相差薄膜,塑料,偏振片光盘液晶组件磁带用胶片收缩薄膜其他一般用途胶片用途:光学功能胶片的研究开发,质量管理延伸胶片的定向评价(三维折射率,表面定向度)包装膜的热收缩、撕脱性等的评价液晶元件的双绞线波

王子计测超高位相差测量PAM-UHR100特点:  
①1nm宽测量范围  
②高重复精度±1nm  
③良好的可操作性  
④软件  
测定对象:  
位相差薄膜,塑料,偏振片  
光盘  
液晶组件  
磁带用胶片  
收缩薄膜  
其他一般用途胶片  
用途:  
光学功能胶片的研究开发,质量管理  
延伸胶片的定向评价(三维折射率,表面定向度)  
包装膜的热收缩、撕脱性等的评价  
液晶元件的双绞线波长色散特性评估  
光学器件的透射椭圆偏振光的评价
http://www.shofound.cn/Products-35214427.html 
https://www.chem17.com/st458787/erlist_2186023.html 

 
(文/小编)
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